Menu

Изучение под микроскопом непрозрачных минералов.

Минералы, поглощающие свет столь сильно, что оказываются непрозрачными даже в шлифах, изучаются под микроскопом в отраженном свете. Определенную информацию можно получить просто путем бокового освещения поверхности шлифа осветителем микроскопа или любым другим источником света. Таким способом удается определить три распространенных непрозрачных минерала: магнетит, который будет выглядеть темным; ильменит, который в некоторых случаях диагностируется по изменению его окраски в сторону желтовато-белой, свойственной лейкоксену (смесь сфена и оксидов титана1); пирит, который выглядит медно-желтым.

Для проведения детальных исследований непрозрачные (или как их часто называют, рудные) минералы, а также металлы впрессовывают в смолу и полученный препарат полируют на вращающемся шлифовальном круге с использованием пасты из тонкого алмазного порошка или глинозема. Отполированная таким образом поверхность препарата изучается затем под микроскопом, оборудованным специальным устройством, которое позволяет освещать ее вертикально падающим светом (рис. 7.41). Исследования минералов в отраженном свете в настоящее время находятся в состоянии развития, а усовершенствования в аппаратурном обеспечении происходят стремительно. Чтобы в процессе изучения использовать все теоретически возможные оптические свойства непрозрачных минералов, связанные с их кристаллической структурой, нужно уметь измерять очень небольшие различия в интенсивности света. Для усовершенствования данного метода требуется еще многое сделать. Необходимое оборудование стоит дорого, и все это представляет проблему для исследователей.

Однако в настоящее время основные наблюдения, необходимые для идентификации непрозрачных минералов, можно проводить с помощью небольших усовершенствований микроскопа.

Диагностика непрозрачных минералов основывается на следующих характеристиках, которые рассматриваются ниже:

1) цвет или его изменение при вращении столика микроскопа;

2) коэффициент отражения (отражательная способность) и величина двупреломления;

3) твердость отполированной поверхности (а при наличии более совершенного оборудования — непосредственно определенная твердость минерала) ;

4) изотропность или анизотропность минерала при скрещенных николях;

5) наличие внутренних отражений (рефлексов);

6) данные микрохимических реакций.

7.9.1 Свойства отраженного света Хорошие и плохие отражатели

В физической оптике отражающие материалы четко делятся на диэлектрики (вещества, обладающие изоляционными свойствами) и проводники, представителями которых являются главным образом металлы.

Обычно прозрачныедиэлектрики обладаюткова лентными или ионными связями, характеризующимися специфическими переходами электронов между соседними атомами либо их обобществлением. Проводники обладают металлической

Рис. 7.41 Общий вид поляризационного микроскопа для изучения минералов в отраженном свете

связью с обобществленным «облаком» связующих электронов, которые могут свободно перемещаться в пределах кристаллической структуры (гл. 1). Когда свет поступает в проводящее вещество, большая часть энергии его электрической составляющей рассеивается, в то время как ток проводимости передается движущимся электронам. Такой перенос энергии является дополнительным к току смещения, который считается причиной потери энергии в веществах, не имеющих облаков свободных электронов. В металлах и вообще в хороших отражателях этот перенос, как правило, становится доминирующим. Если у диэлектриков оптические свойства можно рассматривать с точки зрения их показателей преломления, то вещества, заметно поглощающие свет, оцениваются по величине комплексного показателя преломления. Эта величина содержит коэффициент поглощения к определяемый из закона Ламберта

где I0 — исходная интенсивность света, a / — его интенсивность после прохождения через слой вещества толщиной x

Определение отражательной способности

Отношение интенсивности света, отраженного от поверхности вещества, к интенсивности падающего света называется отражательной способностью (коэффициентом отражения). Для прозрачных веществ (диэлектриков) при свете, падающем на поверхность по нормали, коэффициент отражения г определяется формулой

где n — показатель преломления вещества, a n0 — показатель преломления среды, в которой находится изучаемое вещество. При наблюдении в воздушной среде эта формула приобретает вид

Рис. 7.42 Кривые отражательной способности при изменяющихся показателе преломления и коэффициенте поглощения

Для веществ, поглощающих свет, приведенные уравнения преобразуются, соответственно, следующим образом:

где к — коэффициент поглощения.

На рис. 7.42 показаны графики, построенные на основе последнего из приведенных выше уравнений для некоторых значений показателя преломления п и трех значений к, из которых одно равно нулю, что соответствует прозрачному веществу. Из рисунка видно, что чем больше показатель преломления прозрачного вещества, тем выше его отражательная способность. У веществ, поглощающих свет, высокую отражательную способность обусловливают либо малые значения п, либо большие к. Действительно, хорошие отражатели, такие, как серебро, характеризуются одновременно низким n и высоким к.

Отражение наклонных лучей

Если отраженный свет проходит через микроскоп, настроенный на сходящийся свет, то его лучи будут падать на образец по нормали только в центре, тогда как по краям поля зрения они будут наклонными. Этот эффект тем более заметен, чем больше увеличение объектива. Поэтому следует рассмотреть поведение отраженного пучка плоскопо-ляризованного света, падающего наклонно на отражающую поверхность препарата. Поскольку на-блюдемия обычно проводятся при введенном поляризаторе, мы опишем поведение только поляризованного света, который падает на образец, отразившись от зеркала вниз.

При этом необходимо учитывать три количественные характеристики: амплитуды электриче-

Рис. 7.43 Компоненты электрических векторов наклонно падающего и отраженного света

Рис. 7.44 Отражательная способность для двух составляющих (s и p) наклонно падающего пучка света.

ских векторов падающего (E) и отраженного (R) света, а также амплитуду проходящего через вещество света (E). Когда мы имеем дело с поглощающими веществами, у нас нет необходимости рассматривать E', и основной интерес представляет отношение отраженного и падающего света R/E.

Если образец исследуют при косом освещении (рис. 7.43), свет можно разложить на две компоненты, одна из которых, называемая ^-светом, совершает колебания параллельно плоскости падения (т. е. плоскости, содержащей падающий луч и нормаль к поверхности образца), а другая, называемая s-светом, колеблется перпендикулярно к ней (от начальной буквы немецкого слова senkrecht, что означает «перпендикулярный»).

Коэффициенты отражения, связанные с формулами Френеля, представляют собой отношения интенсивностей падающего и отраженного света и пропорциональны квадратам амплитуд:

Из рис. 7.44 следует, что если свет отклоняется от вертикали, то интенсивности двух его составляющих начинают различаться; однако они вновь становятся равными при скользящем падении света. В этом случае при косом освещении отраженный свет распадается на две неравные составляющие. Они будут сдвинуты по фазе на величину, завися-

(а)

Рис. 7.45 Эллиптическая поляризация, амплитудой и находящихся не в фазе.

(б)

возникающая при взаимодействии двух лучей с разной

щую от ориентации падающих лучей, но точный характер этой зависимости нас здесь не интересует.

Взаимодействие двух неравных простых гармонических колебаний, совершающихся под прямым углом друг к другу и сдвинутых по фазе, в общем случае дает эллиптическое колебание, амплитуда которого изменяется в зависимости от направления колебаний. На рис. 7 45, а два простых гармонических колебания представлены как движения точек по двум фазовым кругам (разд. 7.1.1). Точка, движущаяся по окружности с диаметром x, соответствует колебаниям плоской волны, параллельным направлению OX, а другая точка, перемещающаяся по окружности с диаметром у, описывает колебания волны параллельно направлению OY. Пусть в некоторый заданный момент времени точки x1 и характеризуют направления колебаний двух волн, сдвинутых по фазе. Если проецировать смещение каждой из этих волн на след их собственной волновой плоскости, то мы получим отрезки OX и OY. Результирующую этих волн определяет диагональ y) прямоугольника, стороны которого представлены отрезками OX и OY.

На рис. 7.45, б такого рода построение дано для нескольких пар точек, имеющих постоянную разность фаз, равную п/4. Соответствующие по времени точки обозначены одинаковыми цифрами, а цифрами со штрихом — их положения на эллиптической траектории. Для различных значений фазового сдвига можно построить серию аналогичных эллипсов (фигуры Лиссажу). В частных случаях (когда разность фаз равна 0, п, 2п) эллипсы превращаются в прямые линии1.

Проявление эллиптической поляризации

Эллиптически поляризованный свет, образованный в результате отражения наклонно падающего пучка, не гасится полностью анализатором микроскопа. В центре поля зрения падающий пучок точно перпендикулярен, а вдоль нитей креста одна составляющая отраженного света (параллельная или перпендикулярная плоскости падения) параллельна плоскости поляризатора, так что в этих областях свет не разделяется на две части и поэтому полностью гасится анализатором.

Однако по краям поля зрения полного погасания образца между нитями креста не наблюдается даже у изотропных кристаллов из-за наклонного падения лучей и возникающей при этом эллиптической поляризации. Если изотропный кристалл поместить под микроскоп с высокократным объективом и при скрещенных николях удалить окуляр, то будет виден темный крест, характеризующий области полного погасания. Четкость этого креста свидетельствует о том, что николи полностью скрещены.

7.9.2 Исследования в отраженном свете Поляризованный свет

Цвет. При такого рода исследованиях в большинстве случаев наблюдаются тусклые цвета с преобладанием различных серых оттенков. Различия в цвете улавливаются легче, чем сами цвета. Можно воспользоваться сравнением окраски неизвестного минерала с известным. У некоторых минералов (например, у ковеллина) возникающая окраска выглядит настолько яркой, что сама по себе служит диагностическим признаком.

Двуотражение. При вращении столика микроскопа изотропные минералы не меняют свой цвет и степень отражения. У анизотропных минералов могут наблюдаться изменения в окраске и степени отражения. Для выявления подобных изменений полезно сравнить наблюдаемые эффекты у соседних зерен одного и того же минерала, которые по-разному ориентированы в пространстве. Различия в степени отражения (в яркости) усиливаются при использовании иммерсионного объектива. Из формулы

можно видеть, что увеличение показателя преломления иммерсионной среды п0 приводит к уменьшению отражательной способности, но усиливает различия между близкими по величине комплексными показателями преломления.

Отражательная способность. Эту характеристику изучаемых минералов можно оценить визуально путем ее сравнения с таковой у известных минералов. Однако для получения точных оценок отражательной способности необходимо прибегать к инструментальным методам. Для этой цели применяются два способа.

В первом из них используется призма, расщепляющая пучок падающего света на две части, одна из которых попадает в окуляр после отражения от минерала, а другая попадает в него после прохождения через специальное отверстие. Затем второй («прямой») пучок уравнивается с первым (отраженным) посредством затемнения его нико-лями, один из которых вращается относительно другого.

Второй способ заключается в измерении отраженного от образца света с помощью фотоэлемента или фотоумножителя, который размещается на месте окуляра микроскопа. Электрический ток, создаваемый любым из этих устройств, усиливается и подается на чувствительный гальванометр. В данном методе очень важно обеспечивать стабильность освещения, и с этой целью приме -няют специальные меры регулирования светового потока, заключающиеся в установке аккумуляторной батареи, которая служит буфером на пу-

ти тока питания к осветителю1. В этом способе прямых измерений прибор калибруется по стандартным веществам с известной отражательной способностью. Сложность создания в настоящее время надежных стандартных образцов, которые после полировки обладали бы однородной поверхностью и воспроизводимостью условий отражения света, ограничивает развитие данного метода и затрудняет однозначное сопоставление результатов, полученных в разных лабораториях.

При использовании обоих методов результаты выражаются в виде процентных значений отраженного светового потока по отношению к падающему. В процессе точных измерений такие значения определяются для ряда длин волн света.

У анизотропных минералов отражательная способность может изменяться в зависимости от направления колебаний света.

Твердость

ОТНОСИТЕЛЬНАЯ ТВЕРДОСТЬ ПОЛИРОВАННЫХ ПОВЕРХНОСТЕЙ. В процессе полировки минералов, предназначенных для изучения в отраженном свете, различия в применяемых технологиях позволяют контролировать получаемый рельеф, который у твердых минералов оказывается несколько более высоким, чем у относительно мягких. На границе между мягким и твердым минералами образуется наклонный уступ. Если объектив средней силы сфокусировать на этот уступ при частично прикрытой апертурной диафрагме осветителя и затем поднимать тубус (или опускать столик) микроскопа, то полоса света, называемая полоской Калъба, будет сдвигаться от границы зерен в сторону более мягкого минерала. Этот способ позволяет сравнивать твердость полированной поверхности неизвестного минерала с твердостью известного.

ТВЕРДОСТЬ, ОПРЕДЕЛЯЕМАЯ МЕТОДОМ МИ-КРОВДАВЛ И ВАН ИЯ. Для иследования этим методом применяется устройство, состоящее из рычага, который вращается на оси, находящейся на одном его конце. Посередине рычага закреплена алмазная пирамидка. На другой конец рычага прикладывается груз известной величины (от 10 до 100 г). В целом эта конструкция укрепляется на месте объектива микроскопа таким образом, чтобы за счет перемещения рычага расположить алмазный наконечник точно над центром поля зрения. Наконечник опускается на поверхность образца с помощью микрометренного винта. Спустя 15 с наконечник поднимают и удаляют, а объектив возвращают на исходное место. Затем с помощью микрометрической шкалы окуляра замеряется средняя величина диагоналей пирамидальной вмятины, оставленной на образце алмазным наконечником. В методе микровдавливания твердость выражается как отношение нагрузки к площади (кг/мм2) и определяется по формуле

где Нмв твердость, определенная методом микровдавливания, Р — нагрузка (в кг), 0 — половина угла между противоположными гранями пирамидального наконечника и D — средняя величина диагоналей вмятины (в мм).

Образующиеся в минералах вмятины невелики по размерам и поэтому метод может применяться к зернам, имеющим в поперечнике не менее 10 мкм. Принцип этого метода прост, но используемое в нем оборудование представляет собой тонкий инструмент, требующий осторожного обращения.

Исследования при скрещенных николях

Двуотражение. Несмотря на эффект эллиптической поляризации при вращении столика микроскопа изотропные минералы остаются в скрещенных николях темными, в то время как у анизотропных минералов в этих условиях наблюдается двуотражение. Оно проявляется так же, как у прозрачных минералов, когда при полном обороте столика минерал гаснет четыре раза с интервалом в 90°. Подобно явлениям, наблюдаемым в проходящем свете, степень эффекта анизотропии зависит от направления среза кристалла. И в этом случае положение погасания относительно спайности или граней кристалла может служить его диагностическим признаком.

Если взять высокократный объектив, обеспечивающий большую степень схождения лучей света, и убрать окуляр, то у одноосных минералов на разрезах, перпендикулярных к кристаллографической оси г, будет виден темный крест, изображение которого (как и у изотропных минералов) не меняется при вращении столика. На разрезах, имеющих другое направление, при вращении столика микроскопа крест будет распадаться на две изогнутые изогиры. Это явление также наблюдается четыре раза за один оборот столика. Расстояние между изогирами зависит от ориентации разреза и вида минерала.

Фигуры, возникающие у минералов ромбической, моноклинной и триклинной сингоний, аналогичны тем, которые наблюдаются у одноосных кристаллов. Минералы, принадлежащие к этим сингониям, имеют четыре оси круговой поляризации. Каждая их пара располагается симметрично по обе стороны оптической оси таким образом, что соединяющая их прямая перпендикулярна к плоскости оптических осей. На разрезе, который перпендикулярен какой-либо оси круговой поляризации, будет возникать поляризационная фигура, аналогичная наблюдаемой на разрезе одноосного минерала, перпендикулярном кристаллографической оси г.

Дисперсия коэффициентов отражения. Это явление возникает вследствие различий в степени отражения разных длин волн света. Изучая поляризационные фигуры, при благоприятных условиях в этом случае можно наблюдать появление цветных каемок. Оценка дисперсионных эффектов проводится путем непосредственного измерения степени отражения света различных длин волн.

Вращение плоскости колебаний падающего света. В отраженном свете анизотропные минералы вызывают вращение (обычно небольшое) эллипса колебаний эллиптически-поляризованного света. Этот параметр использовался (в частности, Камероном и его сотрудниками) в качестве определяющей характеристики непрозрачных минералов.

Практическое применение дисперсии и вращения эллипса поляризации основано на очень точных измерениях небольших различий в интенсивности света и поэтому требует сложного и тщательно откалиброванного оптического оборудования. Получаемые результаты несколько варьируют в зависимости от типа используемой аппаратуры. Поэтому мы не будем здесь углубляться в рассмотрение разных технических деталей.

Внутренние отражения. В некоторые слабо поглощающие свет непрозрачные минералы (например, хромит) может проникать достаточно большое количество падающего света. При этом внутри зерен наблюдаются характерные окрашенные участки (обычно красного, желтого или оранжевого цвета), располагающиеся как прямолинейно, так и пятнышками и связанные с отражением вдоль трещин и дефектов внутри кристалла. Наличие этих отражений (рефлексов) оказывает помощь в идентификации минералов.

Литература для дальнейшего изучения

1. Bloss, F. D. An Introduction to the Methods of Optical Crystallography. New York, Holt, Rinehart and Winston, 1961.

2. Cameron, E. N. Ore Microscopy. New York, John Wiley, 1961

3. Craig, J. R. and Vaughan, D. J. Ore Microscopy and Ore Petrology New York, John Wiley, 1981

4. Gay, P. An Introduction to Crystal Optics. London, Longman, 1967.

5. Nesse, W. D. Introduction to Optical Mineralogy. Oxford, Oxford University Press, 1991.

6. Philips, W. R. Mineral Optics: Principles and Techniques San Francisco, W. H Freeman, 1971.

Последние материалы

Заключение (Грунты)

При построении курса учитывалась необходимость его использования для различных гидротехнических специальностей и специализаций. В качестве основной части для студентов всех гидротехнических специальностей следует считать обязательным прочтение гл. 1—7. В гл. 8...

25-08-2013 Просмотров:4817 Грунты и основания гидротехнических сооружений

Представления о решении задач нелинейной механики грунтов

На современном этапе развития нелинейного направления механики грунтов оформились два основных подхода к решению практических задач расчета грунтовых оснований и сооружений: нелинейно-упругий и упругопластический (А. К. Бугров, С. С. Вялов...

25-08-2013 Просмотров:7998 Грунты и основания гидротехнических сооружений

Прочность грунтов при сложном напряженном состоянии

Для сред и материалов, обладающих сплошностью, предложено много различных условий прочности. Для оценки прочности грунтов наиболее широкое распространение получило условие Мора—Кулона (2.38), не содержащее промежуточного главного напряжения а2 и тем...

25-08-2013 Просмотров:4854 Грунты и основания гидротехнических сооружений

Еще материалы

Изучение и описание метаморфических поро…

Изучение и описание метаморфических пород проводится в целом в соответствии с изложенными выше принципами, являющимися общими для любых типов пород. Но при этом нужно учитывать отличительные особенности минерального состава, структур...

14-10-2010 Просмотров:5487 Геологическое картирование, структурная геология

Системи відліку часу й координат

Основною астрономічною одиницею виміру часу є доба (86400 с) - інтервал часу, за який Земля робить один повний оберт навколо своєї осі щодо якої-небудь точки на небесній сфері. Зоряна доба...

30-05-2011 Просмотров:7663 Інженерна геодезія

Талева система

Талева система служить для передавання тягового зусилля з барабана лебiдки на піднімальний гак, на якому пiднiмається вантаж, і призначена для зменшення тягового зусилля на рухомому кiнцi каната, що намотується на...

19-09-2011 Просмотров:8726 Підземний ремонт свердловин